www.www 在 2006-1-18 10:27:04 发表的内容 请谈哪个实验,谢. |
资料在家里,有机会把全文贴上来。
大致是这样,他们搭了一个可以改变相位假负载,分别向容性和感性两个方向调节,在每个相位度数上测一组功放的输出特性,由计算机控制给定信号、记录测试结果,因为功放在大相位负载下会烧机,信号给定一般都是几秒。结果绘成一幅3维图像,发现很多在阻性负载(相位为0)下输出特性很好的机器,在有相位负载下输出特性畸变得很厉害,甚至出现了标称30W的功放在某个相位下输出功率不足5W(标准THD)。
实验结果的3维坐标分别是X--阻抗、Y--输出电平、Z--负载相位(+/-60)
抱歉手头的电脑里没存那个结果图。
实验测了当时的5台名厂功放。从这个实验公布之后,各厂商都加大对负载相位特性的改善,今日之功放已和他日不可同日而语。